CDIMA｜易誠高科OLED人工智能校準全棧解決方案獲兩院院士認可

10月21日，“第四屆國際顯示產(chǎn)業(yè)計量測試高峰論壇暨2019全國顯示產(chǎn)業(yè)計量測試聯(lián)盟年會”在北京召開。

大會發(fā)布了由中國計量測試學會顯示產(chǎn)業(yè)計量測試聯(lián)盟和易誠高科共同推出的《手機及顯示屏測試評價報告》，易誠高科也在會上發(fā)布并展示了與中國計量科學研究院聯(lián)合打造的“OLED Mura檢測及Demura人工智能校準全棧解決方案”并獲得兩院院士一致認可。　　

此次大會以“顯乎其微，示乎其大”為主題，邀請到了中國計量測試學會理事長蒲長城、兩院院士許祖彥院士、譚久彬院士、李天初院士、中國計量科學研究院副院長滕俊恒、蘇州市計量測試院院長張俊峰、廈門市計量檢定測試院院長蔣淑戀、華東電子測量儀器研究所光電計量校準中心主任王恒飛等領導和專家出席。

來自信通院、全國平板顯示標委會等有關領導，東南大學、廈門大學、哈爾濱工業(yè)大學、北京理工大學等高校學者，華為、聯(lián)想、京東方、小米、索尼、維信諾、易誠高科、宸鴻科技等企業(yè)單位共計200余名業(yè)內專家學者，圍繞企業(yè)創(chuàng)新與轉型、產(chǎn)業(yè)融合以及中國顯示產(chǎn)業(yè)全球化等主要議題，探討顯示產(chǎn)業(yè)的前瞻技術和發(fā)展趨勢。

值得一提的是，本次會上中國計量測試學會顯示產(chǎn)業(yè)計量測試聯(lián)盟發(fā)布了與易誠高科共同評測的《手機及顯示屏測試評價報告》。報告圍繞測評背景、測評產(chǎn)品、顯示屏藍光輻射水平測評、電子競技顯示屏關鍵參數(shù)測評、手機顯示屏關鍵參數(shù)測評五個方面，揭示并預測了未來顯示產(chǎn)業(yè)的發(fā)展趨勢，旨在為行業(yè)建立新標準以加快產(chǎn)業(yè)轉型升級，推動顯示計量測試能力滿足各行業(yè)領域的需求。

易誠高科作為特約參展嘉賓，聯(lián)手中國計量科學研究院發(fā)布并展示了“OLED Mura檢測及Demura人工智能校準全棧解決方案”，這也是Mura檢測與人工智能結合的首次亮相，吸引了現(xiàn)場眾多同行交流互動，并獲得了兩院院士許祖彥院士、譚久彬院士、李天初院士的一致認可?！　?/p>

許祖彥院士參觀易誠高科展位

李天初院士參觀易誠高科展位

易誠高科“OLED Mura檢測及Demura人工智能校準全棧解決方案”，意在為OLED Mura檢測和Demura提供原創(chuàng)的技術創(chuàng)新與場景落地的可能，為中國OLED顯示產(chǎn)業(yè)賦能，中國企業(yè)作為OLED產(chǎn)業(yè)的參與者正在打破國外廠商在該領域的壟斷地位?！　?/p>

在峰會的壓軸環(huán)節(jié)，易誠高科與Govion、云英谷、天馬、吉迪思、潤正5家國內平板顯示頭部企業(yè)展開了近1個半小時的“Mura檢測和Demura”圓桌研討。會議中易誠高科CTO王道寧表示，Mura分級推廣、Mura評測標準，對于中國OLED崛起具有重要意義。Mura和DeMura是行業(yè)內的重大課題，行業(yè)應打通IC廠、手機終端廠、屏廠、相機設備廠等設備廠商，各級共同發(fā)力才能提高中國顯示產(chǎn)業(yè)質量，提升國際話語權。

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